Κριτής σε πρακτικά συνεδρίων

Συγγραφείς: Stein B., Koppel M., Stamatatos E.
Ed: Όχι
Eds: Ναι
Συνέδριο: International Workshop on Plagiarism Analysis, Authorship Attribution, and Near-Duplicate Detection (PAN-07)
Μήνας: Ιούλιος
Έτος: 2007
Τόπος: Amsterdam
Εκδότης:
Να εμφανιστεί: Όχι