English Περιοδικό
| Συγγραφείς: | Iliadis A., Andronescu S., Yang J., Vispute R., Stanishevsky A., Orloff J., Talyansky V., Sharma R., Venkatesan T., Wood M. |
|---|---|
| Τίτλος: | Focused Ion Beam Assisted Ohmic Metallizations to p-6H-SiC |
| Περιοδικό: | J. Electronic Materials |
| Volume: | 28 |
| Αριθμός: | 3 |
| Σελίδες: | 136-140 |
| Έτος: | 1999 |
| Εκδότης: | |
| Να εμφανιστεί: | Όχι |
| Δεσμός: | |
| ISI: | Όχι |
| Impact Factor: | |
| Όνομα αρχείου: | |
| Περίληψη: |