English Περιοδικό
| Συγγραφείς: | Huang J., Ioannou D., Iliadis A. |
|---|---|
| Τίτλος: | SEM EBIC studies of (In)GaAs grown by MBE |
| Περιοδικό: | J. Scan. Electron Microscopy |
| Volume: | 2 |
| Αριθμός: | 0 |
| Σελίδες: | 129-132 |
| Έτος: | 1988 |
| Εκδότης: | |
| Να εμφανιστεί: | Όχι |
| Δεσμός: | |
| ISI: | Όχι |
| Impact Factor: | |
| Όνομα αρχείου: | |
| Περίληψη: |