English Περιοδικό
| Συγγραφείς: | Talyansky V., Vispute R., Ramesh R., Sharma R., Venkatesan T., Li Y., Salamanca-Riba L., Wood M., Jones K., Iliadis A. |
|---|---|
| Τίτλος: | Fabrication and Characterization of Epitaxial AlN/TiN Bilayers on Sapphire |
| Περιοδικό: | Thin Solid Films |
| Volume: | 323 |
| Αριθμός: | 1 |
| Σελίδες: | 37-41 |
| Έτος: | 1998 |
| Εκδότης: | |
| Να εμφανιστεί: | Όχι |
| Δεσμός: | |
| ISI: | Όχι |
| Impact Factor: | |
| Όνομα αρχείου: | |
| Περίληψη: |