Περιοδικό

Συγγραφείς: Iliadis A., Kim K.
Τίτλος: A New Theoretical Model For Operational Upsets in CMOS Devices under High Power Electromagnetic Interference
Περιοδικό: IEEE Trans. ED
Volume:
Αριθμός: 0
Σελίδες:
Έτος: 2009
Εκδότης:
Να εμφανιστεί: Ναι
Δεσμός:
ISI: Όχι
Impact Factor:
Όνομα αρχείου:
Περίληψη: