Κεφάλαιο σε βιβλίο

Συγγραφείς: Iliadis A.
Τίτλος κεφαλαίου: High speed circuit reliability
Βιβλίο: Semiconductor Device Reliability
Editors: A. Christou, B. A. Unger
Ed: Όχι
Eds: Ναι
Σελίδες: 491-506
Έτος: 1989
Τόπος:
Publisher: Kluwer Academic Publishers
Να εμφανιστεί: Όχι
Δεσμός:
Όνομα αρχείου: